企(qi)業在進行首件(jian)測試(shi)時，通常會根據不(bu)同(tong)的(de)生(sheng)產需求選擇不(bu)同(tong)的(de)測試(shi)方法(fa)，其中FAI首件(jian)測試(shi)系統和AOI測試(shi)是(shi)企(qi)業常用(yong)的(de)測試(shi)方法(fa)，我們將看(kan)看(kan)它們之間的(de)差異。

　　1.首件檢測儀

　　首件(jian)檢(jian)(jian)測(ce)儀是針對生產(chan)前教育(yu)第一(yi)塊板，AOI一(yi)般可以用于(yu)進行最后(hou)品控，單從技術檢(jian)(jian)測(ce)工作效率方(fang)面來說，首件(jian)檢(jian)(jian)測(ce)儀會比AOI檢(jian)(jian)測(ce)快，并且(qie)板的點(dian)數越多，差距越來越大。在穩定(ding)性方(fang)面，第一(yi)測(ce)試器FAI-E680比AOI測(ce)試更穩定(ding)。

　　首件檢(jian)測儀(yi)是(shi)生產線前做的(de)(de)，一般是(shi)在換線或者換產品(pin)的(de)(de)時候可以(yi)使用情況較多，原理是(shi)通過(guo)進行掃(sao)描技術(shu)需要我們檢(jian)測的(de)(de)SMT貼(tie)片(pian)首件PCB，智能框(kuang)獲取(qu)PCB實物控制掃(sao)描電子圖片(pian)，導入BOM清單和PCB元件以(yi)及貼(tie)片(pian)位置(zhi)坐(zuo)標。

　　2.AOI檢測

　　AOI檢(jian)(jian)測是對產品走下生產線時的(de)最終發展狀態信息(xi)進(jin)行管理(li)監控，簡單的(de)說就(jiu)是一個(ge)光學(xue)檢(jian)(jian)測儀，原理(li)分析就(jiu)是企(qi)業通(tong)(tong)過三色(se)光的(de)組(zu)合方式反(fan)映到機(ji)臺和(he)我(wo)們需要設置的(de)參數(shu)的(de)對比研究顯示(shi)給我(wo)們人眼看的(de)，但是它只能夠同時通(tong)(tong)過影響(xiang)外觀檢(jian)(jian)測電路板的(de)好(hao)壞，比如說短(duan)路，少(shao)錫，缺件等(deng)等(deng)這些現(xian)象，但是像元件工作本身的(de)不良它就(jiu)檢(jian)(jian)測不出來。當然(ran)，AOI也可以進(jin)行檢(jian)(jian)測首(shou)件，但是工作效率等(deng)各方面都非常嚴重欠缺、比如BOM導入(ru)、測值等(deng)。