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SMT首板測試的方法有哪些
在SMT生(sheng)(sheng)產(chan)過程中(zhong),有(you)一種通用的(de)(de)(de)防錯(cuo)方(fang)式(shi)(shi),可以(yi)降(jiang)低出錯(cuo)零件的(de)(de)(de)風險,降(jiang)低出錯(cuo)的(de)(de)(de)概率,有(you)效提高整個生(sheng)(sheng)產(chan)的(de)(de)(de)質(zhi)量這種方(fang)式(shi)(shi)是首(shou)條檢測機制(FAI-first item inspection)幾乎所有(you)的(de)(de)(de)SMT企業都會采用這種防錯(cuo)機制。
1、新產(chan)品首次上線;
2、每(mei)個工人階(jie)級的開始(shi);
3、更換產品型號;
4、調整設備、工(gong)裝(zhuang)夾具;
5、更(geng)改(gai)技術條件(jian)、工(gong)(gong)藝方(fang)法和工(gong)(gong)藝參數;
6、采用新材(cai)(cai)料或更換ECN材(cai)(cai)料后(hou)。
那(nei)么SMT首(shou)板(ban)測試有哪些(xie)方(fang)(fang)式(shi)方(fang)(fang)法(fa)?以下是首(shou)件測試的(de)一些(xie)常用方(fang)(fang)法(fa)根據(ju)不同(tong)的(de)生產要求,企業通(tong)常會選擇不同(tong)的(de)測試方(fang)(fang)法(fa)雖然用的(de)方(fang)(fang)法(fa)不同(tong),但(dan)最后(hou)的(de)效果(guo)是一樣的(de)。
1:用萬(wan)用表(biao)(biao)檢(jian)測(ce)首件,用萬(wan)用表(biao)(biao)檢(jian)測(ce)電阻電容(rong)值,查BOM表(biao)(biao),但是操作(zuo)麻煩,容(rong)易出錯。
2:LCR測(ce)量,俗(su)稱電(dian)橋,適用(yong)于一些簡單的電(dian)路(lu)(lu)板(ban)(ban)電(dian)路(lu)(lu)板(ban)(ban)上的元(yuan)器件(jian)很少,沒(mei)有集(ji)成(cheng)電(dian)路(lu)(lu),只(zhi)有一些無源元(yuan)件(jian)組(zu)裝后(hou),LCR用(yong)于直接測(ce)量電(dian)路(lu)(lu)板(ban)(ban)上的元(yuan)件(jian)對比(bi)BOM上的元(yuan)器件(jian)評級,沒(mei)有異常(chang)就(jiu)可以開(kai)始正式生產了。這種方法被(bei)許(xu)多SMT工廠廣泛(fan)使用(yong),因為(wei)它成(cheng)本低,并(bing)且只(zhi)需一臺LCR即可操作。
3:FAI首件(jian)測(ce)試(shi)系(xi)(xi)統(tong)通常由一套(tao)由FAI軟件(jian)集成的(de)(de)LCR橋(qiao)組成。生產(chan)(chan)產(chan)(chan)品的(de)(de)BOM可(ke)(ke)(ke)以(yi)導入FAI系(xi)(xi)統(tong),企業(ye)員(yuan)工可(ke)(ke)(ke)以(yi)使用(yong)自己的(de)(de)橋(qiao)式(shi)夾具測(ce)量首個樣品組件(jian)系(xi)(xi)統(tong)會與輸入的(de)(de)BOM數據(ju)進行核對,測(ce)試(shi)過程軟件(jian)可(ke)(ke)(ke)以(yi)用(yong)圖(tu)形或語音顯示(shi)結果(guo),從(cong)而減(jian)少因人員(yuan)查找(zhao)疏忽(hu)而導致(zhi)的(de)(de)誤測(ce)。可(ke)(ke)(ke)以(yi)節省人力(li)成本(ben),但前期投入較大,在(zai)目前的(de)(de)SMT行業(ye)有一定的(de)(de)市場,得到(dao)一定企業(ye)的(de)(de)認可(ke)(ke)(ke)。